如何优化TYPE-C母座

人们通对TYPE-C母座进行仿真试验可以得到特性阻抗、插损、回损和串损等因素的仿真数据，通过对结果的充分分析之后，发现造成连接器母座信号完整性问题的主要原因是：特性阻抗波动过大，较小值偏小，回波损耗偏大。因此，在优化TYPE-C母座时可以着重从对这两方面的优化着手。

对于TYPE-C母座在信号传输过程中出现的特性阻抗偏小，回波损耗偏大的问题，本质上还是阻抗不连续的问题。根据仿真试验的结果发现，连接器的公头与母头连接处结构的问题导致了信号传输出现异常，所以优化电连接器公头与母头的接触部分的结构是解决该电连接器信号完整性问题的关键。因为连接线的特性阻抗是与容抗、感抗精密相关，所以人们想要增加TYPE-C母座的特性阻抗值的话，需通过以下两种方式来进行。

一是通过改变影响TYPE-C母座感抗的参数来增加感抗；二是通过改变影响母座容抗的参数来降低容抗。而考虑到电感主要是受传输线之间的间距影响，所以如果要对影响电感的参数进行优化，那么就需要改变线间距，这样会使得TYPE-C母座的模型产生很大的改变，同时也会对电连接器产生更多的意想不到的问题。因此，人们在实际优化C型USB母座时，要综合考虑多方面问题，否则就会出现顾此失彼的情况。