TYPE-C连接器信号完整性研究常用的激励源

为了研究TYPE-C连接器的信号完整性，人们通过HFSS仿真软件对接口进行仿真试验和分析。为了确保仿真试验的真实性，人们需要激励源对C型USB接口进行激励，从而了解其是否具有信号完整性。根据人们对TYPE-C连接器信号完整性的研究经验，常常采用波端口激励和集总端口激励两种激励源。

在TYPE-C连接器HFSS电磁仿真中默认为模型与背景相连的接触面都被设置为理想导体边界，也就是说不允许任何能量通过该界面，波端口就设置在这样的界面上，为模型仿真提供一个可供能量进出的窗口。由于波端口是电连接器仿真过程中模型能量进出的独一窗口，因此波口界面的大小对仿真结果的准确性至关重要。一般来讲，人们会尽量将波端口尺寸设计较大，但为了避免波端口边缘出现耦合，影响TYPE-C连接器传输性能和计算的准确性，人们会控制波端口的宽度和高度都不超过1/2个工作波长。

在TYPE-C连接器HFSS电磁仿真中，集总端口激励的特别之处在于可以将集总端口放在研究模型中，把它当做系统内部电阻来进行测试，不再需要另外设置端口阻抗。人们在实际的TYPE-C连接器信号完整性电磁仿真计算的过程中，可以结合连接器的结构特点和计算精度的要求选择适当的端口激励方式，例如微带结构的C型USB连接器常采用集总端口激励的方式。